Поставку детектора и системы анализа дифракции обратно рассеянных электронов для электронного микроскопа Zeiss EVO 40
Тип извещения | Открытый аукцион в электронной форме |
Номер извещения | 0372100000213000076 |
Регион | Санкт-Петербург |
Наименование | Поставку детектора и системы анализа дифракции обратно рассеянных электронов для электронного микроскопа Zeiss EVO 40 |
Место публикации | РТС-тендер |
Дата публикации | 30 апреля 2013 года |
Контактная информация
Размещение заказа осуществляется специализированной организацией | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена" |
Почтовый адрес | Российская Федерация, 191186, Санкт-Петербург, наб.р.Мойки, 48 |
Фактический адрес | Российская Федерация, 191186, Санкт-Петербург, наб.р.Мойки, 48 |
Телефон | 7-812-5716999 |
Факс | 7-812-5716999 |
Электронная почта | tender@herzen.spb.ru |
Контактное лицо | Алексеевская Татьяна Юрьевна |
Предмет контракта
Предмет контракта | Поставку детектора и системы анализа дифракции обратно рассеянных электронов для электронного микроскопа Zeiss EVO 40 |
Начальная (максимальная) цена контракта | 4,855,000.00 руб. |
Количество товара, объем работ или услуг | Данные о количестве поставляемого товара приведены в томе 3 документации об аукционе. |
ОКДП | Приборы электронно - оптические для исследования микроструктуры вещества |
Место поставки товара, выполнения работ или оказания услуг | г. Санкт - Петербург, наб. реки Мойки, д. 48, корпус 2, ауд. №362. |
Срок поставки товара, выполнения работ или оказания услуг | Поставка Товара осуществляется с момента подписания договора в течение 60 календарных дней с момента заключения договора. |
Заказчик | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена" |
Сопутствующая документация
- • САЙТ ОАЭФ_13_112_Поставка детектора и системы анализа дифракции, САЙТ ОАЭФ_13_112_Поставка детектора и системы анализа дифракции.odt